仪器简介功能:在三维可测的空间范围内,能够根据测头系统返回的点数据,通过三坐标的软件系统计算各类几何形状、尺寸。可实现复杂几何元素测量:点、边界点、直线、平面、圆、圆弧、球、圆柱、圆锥、椭圆、键槽、曲线、曲面、圆环;支持IGES文件建模、导出,直接实现逆向工程等更高级测量任务。优势:基于新一代高稳定性控
仪器简介:功能:快速、可靠地测量大部分半透明或具有轻微吸收性的薄膜材料厚度、光学常数、表面粗糙度。优势: 实时测量和分析各种多层次的、薄的、厚的,独立的和不均匀的层。丰富的材料库 (500多种材料),可支持参数化材料:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA 等。操作软件支持一键式测量和分析,仿真和灵敏度分析