【物性分析】扫描探针显微镜

仪器简介：

功能：AFM常用于测量样品表面纳米级形貌结构及表面粗糙度信息，同时配置KPFM、PeakForce QNM等特殊的功能模块，可获取材料纳米尺度的杨氏模量、粘滞力、压电特性、摩擦系数、表面磁畴、电荷、电势的分布图。

优势：Dimension FastScan是世界上扫描速度最快的原子力显微镜，在保证最高分辨和最优异的仪器检测性能的前提下，能实现对样品形貌的超高速表征；提供智能扫描模式及液下扫描模式；配置电化学液体池及加热组件，能对样品在加热及电化学反应过程中的形貌和力学特征量的变化进行实时的测量；高分辨纳米力学特性测量模式，能实时获取每一个像素点的力学谱线。

主要技术参数：

1、285~1285倍放大辅助光学系统；

2、 Z方向噪声水平<30 pm，XY方向定位噪音水平<0.1 nm；

3、 Icon探头最大扫描尺寸100*100 μm²，Z方向13.4 μm；

4、 FastScan探头最大扫描尺寸33*33 μm²，Z方向3.4 μm；

5、 FastScan探头扫描速度可高达6 Hz-20 Hz；

6、加热组件温度控制范围：-35 ℃~250 ℃，电化学温控系统：RT~60 ℃。

应用领域：

应用于半导体、纳米功能材料、生物、医药研究等各种纳米相关领域材料的表面形貌2D、3D图观察，膜层厚度，相关电学、力学、磁学性质的测量。