仪器简介:功能特点:FIB-SEM双束电镜不但能进行超高分辨的扫描电镜观察,也能利用FIB对试样进行切割、加工、沉积,从事内部和截面观察及全静态三维表征,以及特定图形加工工作。高性能X射线能谱仪,支持点、线及面上的元素扫描,能准确分析样品的元素分布。优势:超高的FIB分辨率可以进行精确的试样加工,尤其适合进行制定
2022-01-07 【检验检测常见问题】 Tags: 分析仪器 微区分析 聚焦离子束 场发射扫描 电子显微镜