微区元素分析机构_化工物性分析中心_质谱分析检测中心_光谱成分分析中心_生物分子分析工具

【微区分析】台式扫描电子显微镜

仪器简介：功能特点：可在低真空下观察成分像、阴影像和凹凸像。样品室空气压力大于5Pa，可实现对不导电样品的无喷涂观察。优势：快速抽真空，操作简便，快速得到图像。主要技术参数：1.放大倍率：低倍模式 15 – 60 k。2.钨灯丝电子枪加速电压：15 kV、 5 kV。3.手动样品台样品台可移动范围：X: ±17.5 mm；Y: ±17.5 mm。

2022-01-07 【检验检测常见问题】
Tags：分析仪器微区分析台式扫描电子显微镜电子显微镜

【微区分析】聚焦离子束场发射扫描电子显微镜

仪器简介：功能特点：FIB-SEM双束电镜不但能进行超高分辨的扫描电镜观察，也能利用FIB对试样进行切割、加工、沉积，从事内部和截面观察及全静态三维表征，以及特定图形加工工作。高性能X射线能谱仪，支持点、线及面上的元素扫描，能准确分析样品的元素分布。优势：超高的FIB分辨率可以进行精确的试样加工，尤其适合进行制定

2022-01-07 【检验检测常见问题】
Tags：分析仪器微区分析聚焦离子束场发射扫描电子显微镜

【微区分析】场发射扫描电子显微镜

仪器简介：功能特点：SEM主要用于固态样品表面形貌的二次电子像、背散射电子像观察及图像处理。它既可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在微米、纳米级样品的表面特征，配备的EDS也可以支持点、线及面上的元素扫描，能准确分析样品的元素分布。。优势：SU8220冷场扫描电镜采用全新设计的冷场发射电子枪大幅提高了探针

2022-01-07 【检验检测常见问题】
Tags：分析仪器微区分析场发射扫描电子显微镜电子显微镜

【微区分析】场发射透射电子显微镜

仪器简介：功能特点：TEM用于观察样品内部组织形貌，特别适用于对纳米级样品的观测；具有结构相的样品，能在高倍数下观测到晶格条纹。其中，STEM综合扫描和普通透射电子分析的特点，可以观察较厚的试样和低衬度的试样，得到原子序数衬度像。EDS支持点、线及面上的元素扫描，能准确分析样品的元素分布。优势：FEI Talos F200

2022-01-07 【检验检测常见问题】
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