仪器简介：功能特点：SEM主要用于固态样品表面形貌的二次电子像、背散射电子像观察及图像处理。它既可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在微米、纳米级样品的表面特征，配备的EDS也可以支持点、线及面上的元素扫描，能准确分析样品的元素分布。。优势：SU8220冷场扫描电镜采用全新设计的冷场发射电子枪大幅提高了探针
2022-01-07 【检验检测常见问题】 Tags： 分析仪器 微区分析 场发射扫描电子显微镜 电子显微镜
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