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【物性分析】激光共聚焦显微镜

仪器简介：功能：通过非接触的方式进行样品表面三维形貌观察和测量。最高分辨率达10 nm，可以方便快捷地获取影像，同时配备丰富的测量功能，可测量材料线粗糙度及面粗糙度。优势：采用了双共焦系统，结合高灵敏度的探测器，可以测量那些具有不同反射率材料的样品。多层模式可实现对透明样品的顶部的透明层进行观察和测量。O

2022-01-07 【检验检测常见问题】
Tags：分析仪器物性分析激光共聚焦显微镜聚焦显微镜
【物性分析】表面张力测定仪

仪器简介：功能：测量液滴与表面之间的粘附力；测量液体的表面/界面张力并分析表面张力中的极性力与色散力；测量固体材料（薄膜、片、棒，纤维、粉末）的接触角；计算固体材料表面自由能。优势：是Dataphysics表面界面张力仪系列中的一款高端型号，具有精度高，功能强大，应用广泛，易操作等特点。主要技术参数：1、表面/界

2022-01-07 【检验检测常见问题】
Tags：分析仪器物性分析表面张力测定仪测定仪
【物性分析】台阶仪

仪器简介：功能：台阶高度、粗糙度、波纹度、翘曲度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌测量及分析。低测定力模式不仅能够避免划伤样品，也能对于软性样品进行测试，适合于各类晶片、薄膜、涂层、MEMS、平板显示等领域的表面测量。优势：采用了Kosaka独有的直动式台阶测量方式，有效避免了传统杠杆式台阶仪所带来的圆弧误差。

2022-01-07 【检验检测常见问题】
Tags：分析仪器物性分析台阶仪
【物性分析】薄膜测厚仪

仪器简介：功能：快速、可靠地测量大部分半透明或具有轻微吸收性的薄膜材料厚度、光学常数、表面粗糙度。优势：实时测量和分析各种多层次的、薄的、厚的，独立的和不均匀的层。丰富的材料库 (500多种材料)，可支持参数化材料：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA 等。操作软件支持一键式测量和分析，仿真和灵敏度分析

2022-01-07 【检验检测常见问题】
Tags：分析仪器物性分析薄膜测厚仪
【物性分析】扫描探针显微镜

仪器简介：功能：AFM常用于测量样品表面纳米级形貌结构及表面粗糙度信息，同时配置KPFM、PeakForce QNM等特殊的功能模块，可获取材料纳米尺度的杨氏模量、粘滞力、压电特性、摩擦系数、表面磁畴、电荷、电势的分布图。优势：Dimension FastScan是世界上扫描速度最快的原子力显微镜，在保证最高分辨和最优异的仪器检测性能的

2022-01-07 【检验检测常见问题】
Tags：分析仪器物性分析扫描探针显微镜探针显微镜
【微区分析】等离子清洗仪

仪器简介：功能特点：去除碳氢化合物对TEM和SEM样本载台或样品的污染，以增强样品的成像能力（低电压），提高化学微量分析时的精度。优势：不需要其他的原料，只要空气就能够满足要求，使用方便而且没有污染。主要技术参数：1.功率：5 - 99 W连续可调等离子功率。2.压力：-2 Torr – 5 mTorr。应用领域：仪器广泛应用于除去

2022-01-07 【检验检测常见问题】
Tags：分析仪器微区分析等离子清洗仪清洗仪
【微区分析】多功能离子减薄仪

仪器简介：功能特点：金属、陶瓷等耐离子束样品的减薄、清洁、抛光、切割。优势：操作简便，高效处理样品，安全。主要技术参数：1.两把非聚焦型的鞍型场枪，可对样品的大面积区域进行离子抛光或减薄。2.离子束加速电压调节范围：0.8 kV - 10 kV（0.1 keV每步）；离子束流：最大4.5mA。3.样品台倾斜范围：-120°至210°（精确

2022-01-07 【检验检测常见问题】
Tags：分析仪器微区分析多功能离子减薄仪离子减薄仪
【微区分析】冷冻超薄切片机

仪器简介：功能特点：可半薄和超薄切片，以及样品表面光滑处理，为透射电镜、扫描电镜、原子力显微镜和光镜检验生物和工业样品提供服务。优势：可以轻易地完成常温/冷冻的超薄切片工作，操作方便。主要技术参数：1.样品臂步进厚度：1 - 100 nm，步进1 nm，旋钮调节；100 - 1000 nm，步进10 nm，旋钮调节；1000 - 2500 nm，步

2022-01-07 【检验检测常见问题】
Tags：分析仪器微区分析冷冻超薄切片机切片机
【微区分析】台式扫描电子显微镜

仪器简介：功能特点：可在低真空下观察成分像、阴影像和凹凸像。样品室空气压力大于5Pa，可实现对不导电样品的无喷涂观察。优势：快速抽真空，操作简便，快速得到图像。主要技术参数：1.放大倍率：低倍模式 15 – 60 k。2.钨灯丝电子枪加速电压：15 kV、 5 kV。3.手动样品台样品台可移动范围：X: ±17.5 mm；Y: ±17.5 mm。

2022-01-07 【检验检测常见问题】
Tags：分析仪器微区分析台式扫描电子显微镜电子显微镜
【微区分析】聚焦离子束场发射扫描电子显微镜

仪器简介：功能特点：FIB-SEM双束电镜不但能进行超高分辨的扫描电镜观察，也能利用FIB对试样进行切割、加工、沉积，从事内部和截面观察及全静态三维表征，以及特定图形加工工作。高性能X射线能谱仪，支持点、线及面上的元素扫描，能准确分析样品的元素分布。优势：超高的FIB分辨率可以进行精确的试样加工，尤其适合进行制定

2022-01-07 【检验检测常见问题】
Tags：分析仪器微区分析聚焦离子束场发射扫描电子显微镜