仪器简介:功能特点:TEM用于观察样品内部组织形貌,特别适用于对纳米级样品的观测;具有结构相的样品,能在高倍数下观测到晶格条纹。其中,STEM综合扫描和普通透射电子分析的特点,可以观察较厚的试样和低衬度的试样,得到原子序数衬度像。EDS支持点、线及面上的元素扫描,能准确分析样品的元素分布。优势:FEI Talos F200
2022-01-07 【佛山市检验检测常见问题】 Tags: 佛山市分析仪器 佛山市微区分析 佛山市场发射透射电子显微镜