仪器简介：功能：配置多项拓展功能，能实现扫描/平行成像、XPS采谱、角分辨XPS、刻蚀深度剖析、REELS、UPS、ISS等多项功能。优势：配置高达0.44 eV能量分辨率的半球能量分析···
仪器简介：功能：通过非接触的方式进行样品表面三维形貌观察和测量。最高分辨率达10 nm，可以方便快捷地获取影像，同时配备丰富的测量功能，可测量材料线粗糙度及面粗糙度。···
仪器简介：功能：测量液滴与表面之间的粘附力；测量液体的表面/界面张力并分析表面张力中的极性力与色散力；测量固体材料（薄膜、片、棒，纤维、粉末）的接触角；计算固体材···
仪器简介：功能：台阶高度、粗糙度、波纹度、翘曲度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌测量及分析。低测定力模式不仅能够避免划伤样品，也能对于软性样品进行测试，适合于各···
仪器简介：功能：快速、可靠地测量大部分半透明或具有轻微吸收性的薄膜材料厚度、光学常数、表面粗糙度。优势： 实时测量和分析各种多层次的、薄的、厚的，独立的和不均匀的···
仪器简介：功能：AFM常用于测量样品表面纳米级形貌结构及表面粗糙度信息，同时配置KPFM、PeakForce QNM等特殊的功能模块，可获取材料纳米尺度的杨氏模量、粘滞力、压电特性···
