【物性分析】薄膜测厚仪

仪器简介：

功能：快速、可靠地测量大部分半透明或具有轻微吸收性的薄膜材料厚度、光学常数、表面粗糙度。

优势： 实时测量和分析各种多层次的、薄的、厚的，独立的和不均匀的层。丰富的材料库 (500多种材料)，可支持参数化材料：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA 等。操作软件支持一键式测量和分析，仿真和灵敏度分析，背景和缩放修正，连接层和材料，多样品测量、动态测量。

主要技术参数

1.光谱范围：200 nm~1700 nm ；

2.测量范围：2 nm~200 μm ；

3.光源：50 W卤素灯。

应用领域：

广泛应用于半导体、生物技术、数据存储、显示、化学以及光学镀膜工业等领域各种透明或半透明薄膜的厚度的测量。